產品分類 更多>>
華科智源研發生產半導體測試設備，提供ITC57300mos管IGBT功率器件動態參數測試儀，大功率IGBT到小功率管MOS的測試， 包括動態參數和靜態參數測試，雪崩能量測試以及熱阻測試， 索取相關資料和報價請聯系陳先生 130零8867918
ITC57300是美國ITC公司設計生產的高集成度功率半導體分立器件動態參數測試設備，采用測試主機 功能測試頭 個性板的測試架構，可以滿足N溝道、P溝道器件、雙極晶體管等的各項動態參數的測試要求，且具有波形實時顯示分析功能，是目前具水平的完備的動態參數測試設備。
ITC57300動態參數測試系統主機可執行非破壞性的瞬態測量測試，包括對半導體器件絕緣柵雙極晶體管（IGBT），功率MOSFET，二極管，雙極型器件的測試頭。主機包括所有測試設備和必要的軟件分析，可執行電阻和電感的開關時間，開關損耗，柵極電荷，TRR /的Qrr和其他瞬態測試。
ITC57300能力
測試電壓：1200 VDC 200（短路電流可達1000A）
定時測量：較低為1 ns
漏電流限制監視器
-
