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半自動el缺陷檢測\el缺陷檢測儀技術參數：
型號規格
EL140S/D-M
EL600S/D-M
EL830S/D-M
有效測試面積
1200mm X 2100mm
分辨率
1360×1024（單）
3032*2016（單）
3358*2536（單）
2720*1024（雙）
6656*2030（雙）
6716*2536（雙）
測試組件類型
單晶、多晶組件
相機類型
冷卻型CCD
冷卻到達溫度
致冷至室溫下 20 °C
可編程電源輸出電壓
0~80V
可編程電源輸出電流
0~9.5A
電源參數
單相220V 10A 較大加載電壓80V，較大加載電流 10A
曝光時間
0—60秒可調
壓縮空氣
0.8MP
整機工作功率
1KW
可檢測缺陷類似
檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉換效率單片電池異常現象
半自動el缺陷檢測儀產品特點:
1、的成像質量：140萬、600萬、830萬成像質量優良，無噪點。相機帶有半導體制冷，較低可達-20°C，排除熱噪聲的影響，使圖像質量進一步提升。
2、全封閉式光路設計：全封閉光學系統和恒溫冷卻系統使測試環境保持在全暗室和恒溫環境下，了整個系統運行的穩定性；避免了因外界雜光和溫度不均造成測試成像噪點，了測試的直觀性和準確性
3、強大專用測試軟件：全中文顯示界面，可自動手動掃描圖形碼編號并按編碼進行文件保存。可放大掃描圖像顯示細節，方便判斷。
半自動el缺陷檢測儀應用范圍:
該設備用于檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉換效率單片電池異常現象。
聯系人:王丹丹
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