• 移動平臺：精密的三維移動平臺

•  天瑞儀器作為一個集儀器研發、系統設計、產品生產、服務提供為一身的綜合性儀器供應廠商，一直以來嚴格遵循“360°優質服務”的客戶服務理念，以提高顧客滿意度為根本目標，從服務力量、服務流程、服務內容等各個方面為客戶提供全方位的優質服務。

• 性能優勢

• 精密的三維移動平臺
  卓越的樣品觀測系統
  先進的圖像識別 
  輕松實現深槽樣品的檢測
  四種微孔聚焦準直器，自動切換
  雙重保護措施，實現無縫防撞
  采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試
  全自動智能控制方式，一鍵式操作!
  開機自動退出自檢、復位 
  開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
  關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
  直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
  點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果

• 技術指標

• 分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
  同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
  檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
  分析含量：一般為2ppm到99.9% 
  國產鍍層測厚儀鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
  穩定性：可達0.1%
  SDD探測器：分辨率低至135eV
  采用先進的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
  樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
  準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
  Ф0.3mm四種準直器組合
  儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
  樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
  樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
  X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 高速度333.3mm/s
  X/Y/Z平臺重復定位 ：小于0.1um
  操作環境濕度：≤90%
  操作環境溫度 15℃～30℃

• 樣品腔尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

• 分析范圍：同時可以分析30種以上元素，五層鍍層

• 檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm

• 鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%

• 同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層

• 準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準直器組合

國產鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型高端儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

實驗表明，使用Thick800A XRF錫層電鍍層測厚儀對鍍件膜厚測試，結果準確度高，速度快（幾十秒），其測試效果完全可以和顯微鏡測試法媲美。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發后會發射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉變為模擬電信號；經過模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號并送入計算機進行處理；計算機獨有的特殊應用軟件根據獲取的譜峰信息，通過數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態范圍寬，可從0.005μm到60μm。