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徠卡DM12000M
產品簡介：徠卡半導體檢測顯微鏡DM12000M，可實現大型12寸晶圓觀察，常規金相材料、電子元器件、LCD、粉塵顆粒等樣品觀察分析。可配接Leica攝像頭，熱臺等配件
徠卡半導體檢測顯微鏡DM12000M，可實現大型12寸晶圓觀察，常規金相材料、電子元器件、LCD、粉塵顆粒等樣品觀察分析。可配接Leica攝像頭，熱臺等配件。
DM12000M智能數字式正置顯微鏡，適合晶圓、電子元器件、金屬、陶瓷、高分子材料、粉塵顆粒等樣品觀察分析，多種安全設計，保護晶圓，鏡頭及觀察者。
晶圓檢測顯微鏡采用模塊設計，可實現反射觀察、透射觀察配置
復消色差光路，整體支持25mm視野直徑
可選配UV光源，提高觀察分辨率至亞微米機構，UV由大功率LED產生，具有UV和OUV功能
12x12大樣品臺，可觀察晶圓，LCD等大尺寸樣品
6孔位電動物鏡轉盤，配接32mm直徑長工作距離工業物鏡
內置電動或手動調焦系統
0.7x宏光物鏡，具有宏光晶圓檢查功能
徠卡金相半導體顯微鏡DM12000M結構圖
產品特點 Infocation
四倍視野
宏觀放大功能，使您可以比傳統掃描物鏡多看四倍以上的視野。
人體工學設計
非常適合長時間在顯微鏡上工作,直觀操作適應任何程度的使用者。
極限分辨率
全新的傾斜紫外模式(OUV)
