名片曝光使用說明

步驟1:創建名片

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加工定制
品牌
B&W Tek Inc
型號
Sol 1.7

Sol?1.7B&W Tek推出的高性價比線陣銦鎵砷(InGaAs)陣列光譜儀,可選256元,512元(標配),或1024元。檢測器采用半導體致冷至-10oC,具備很高的光通量和寬的動態范圍。

光譜儀采用SMA905標準光纖接口,內建16位數字轉換器,即插即用USB2.0數據傳輸接口,采用B&W Tek的操作軟件,用戶可選擇高靈敏度或高動態范圍模式。B&W Tek可根據用戶的不同應用需要配置不同的光譜分辨率。

TE半導體致冷:

采用內建的熱電冷卻器對陣列檢測器進行致冷是降低暗噪聲的有效手段,這同時可以增大檢測器的動態范圍和提高其檢測限。當InGaAs檢測器從室溫25oC被致冷到-10oC時,其暗電流將降低約12.5倍,其暗噪聲也將降低約3.5倍。這使得光譜儀可以用于更長積分時間下的檢測,例如對于微弱信號的檢測,同時還可提高檢測光譜的信噪比。

特點

應用

? 900nm - 1700nm光譜范圍

?光譜分辨率最高0.25nm

? 18個光譜范圍可選

?內建16位數值轉換

? TE致冷/優異的穩定性

?用戶可選高動態范圍/高靈敏度模式

?過程監控
?近紅外光譜
?質量控制
?在線分析

?材料鑒定

1) 檢測器

Sol?1.7近紅外光譜儀標準配置采用TE致冷512元銦鎵砷(InGaAs)檢測器,像元大小為25μm×500μm。檢測器上每個像元對應于所測量光譜的一部分,光子被一個個的像元俘獲并穿過檢測器轉化為電子,它們的強度可在BWspec軟件中顯示出來。

通過BWSpec?,Sol系列光譜儀的檢測器可以在高動態范圍模式和高靈敏度模式中切換,使得用戶可以適應不同光譜檢測應用的需求。

規格

波長范圍

900nm - 1700nm

像元

512, Others Available

尺寸

25μm×500μm

阱深

高動態范圍: ~100,000,000e

高靈敏度: ~40,000,000e

讀出速度

500 kHz






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