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L2000C射頻導納料位計描述
L2000C射頻導納控制器是生產,是在美國普林柯公司射頻導納物位控制器的基礎上,研究和開發的產品。
L2000C射頻導納控制器運用美國普林柯抗粘附線路設計,可以探測真實物位的同時,消除粘附和懸掛在探頭周圍的假物位信號影響。我們還自主采用國外先進的設計和生產技術,使電子線路參數更加穩定、,使用壽命更加長久。
L2000C射頻導納料位計的探頭部分通過一系列的市場調研,研究采用了探頭直徑達到10mm,保護套長150mm,總長450mm,使探頭更堅固、更實用、更。同時,自主開發L890平板探頭、解決了大固體塊料沖擊探棒的問題,并且,也生產L863WC鋼纜探頭和L864C陶瓷高溫探頭,使L2000C的使用對象從液體、粉料擴展到高溫、大固體塊料。
L2000C射頻導納料位計工作原理
工作原理是基于射頻(RF)電容技術。將一個無線電頻率施加在探頭上,通過連續的分析,確定由周圍環境造成的影響。因所有材料均具有介電常數,而且其導電率都不同于空氣,當探頭與材料接觸時由于微小電容量偏移所反映的總阻抗發生變化。因為通電的探頭和容器壁構成電容器的二塊極板,探頭的絕緣體和周圍空氣成為介電材料,當空氣(其介電常數為1．o)被任何其它材料價電常數,
