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菲希爾-X-RAY膜厚測量儀是結合了測量鍍層厚度及物料分析雙功能在一整體的設計，此儀器是采用能量散射X-射線螢光測量原理，符合國際標準來進行非破壞及不接觸的測量,除了可以測量鍍層厚度外，還可以計算合金中各種元素的含量,至于需要測量電鍍槽內的金離子停含量的濃度也是十分簡單。
菲希爾-X-RAY膜厚測量儀采用的測量法特點有以下幾種：
1、不需要先對樣品進行處理便能測量。樣品可以直接放入測量室進行測量，不需特別處理樣品。
2、不需要復雜、昂貴的儀器來抽真空，便能在正常的環境下測量從元素Z＝13（鋁）至U＝92（鈾）
3、固體、漿狀及液體的樣本也可以測量。即使是極小不規則的測量面積也可快速，免接觸的測量。
菲希爾-X-RAY膜厚測量儀可應用于治金學、地質學、鑒證學或自然科學等，在工業方面，廣泛用于五金電鍍、電子半導體、PCB線路、首飾珠寶、衛浴、汽配的成份分析和鍍層測量方面。
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