本系統提供實驗室等級的LED量測系統。使用高精刻度的光譜、穩定的A光源、設計精良的光強分布箱、偵測器、積分球、及人性化的電腦操作軟件，提供全光譜、色溫、色度、波長、功率、光強度、光強分布、及照度等的全功能自動控制，達到需要的待測物各種光參數的量測。本系統由積分球、偵測器、光譜儀、電流計、光強分布箱、及電腦控制為主要元件，搭配開發之控制軟體，在簡易的操作介面之下，擔高測試準確度。并可達到自行校正波長及照度校正。選用本系統進行LED晶片生產及封裝廠已有科學園區多家廠商。 此套系統使用的是掃描（scanning)式的光譜儀，解析度高，量測穩定。為了滿足使用者多樣的需求，提供了不同的測度項目，包括了IV，（X，Y），λd，λp，TC，CRI，FWHM，IP，VF，IR，IF，VF與THY。它也能測量不同形式的LED，例如LED CHIP，SMD，LAMP，MODULE，LED DISPLAY。 測試項目及規格 量測項目 規格 Reverse Current (逆向電流) (IF) 0-1,00uA Reverse basic voltage（逆向電壓）(Vf) 0-50Vprogrammable Forward Current (順向電流) (IF) 0.1-1000mA Forward basic voltage(順向電壓 )(Vf) 0-20Vprogrammable Peak Wavelength(尖峰波長)(λp) 350-1050nm Luminance intensity(光強度) 0-50,000mcd Radiance intensity (輻射強度) 0-5000mW/sr Color Temperature(色溫) 1000-20,000K Dominant Wavelength(主波長) (λd) 400-700nm Chromaticity coordiantes(色度坐標) CIE (x,y) Correlated Color temperature (相對色溫) CCT,1,000-100,000K Purtiy(度) FWHM(半寬波長) 0-200nm Center Wavelength(中心波長) 350-1050nm Centroid Wavelength(重心波長) 350-1050nm CRI(演色指數) 0- 適用范圍 *LED晶片廠研發部及品管部，LED封裝廠研發部及品管部，LED來料檢驗 *度到小數點4位小數，是實驗室等級的光譜儀。隨機附精密校正檔及光學計算分析軟體程序（DLLs）可用于對其他的儀器做校正用，提供全光譜、色溫、色度、波長、CRI及光強度等全功自動控制，達到需要的待測物各種光參數的量測。 系統特色 *全自動化量測設計，操作介面簡單 *使用者可自行與標準樣品校正，無須負擔龐大的校正費用 *軟體可配合使用者的習慣或需要做部分修改； *可產生各種使用者所需單色光譜光源及功率 *采用CIE 1931, 和CIE1976 U.C.S標準及演算等方法 系統硬件 型號 規格 光譜儀 ARC SP-150,400-1100nm,解析度0.1nm optimum積分球 ISP-050,50mm積分球 Picoanmeter電流計 Keithley#6485 電源供應器 Keithley#2400 optimum system controller Windows系統自動控制操作程式 software driver,desktop pcg LCD monitor console軟體規格為VisualBasic 6.0開發,相容Windows 98以上版本 optical components 偵測器,三色光源,光源箱,光纖及其他光學配件 測試畫面