采用平場消色差光學系統和落射式柯拉照明系統,同時在落射照明系統中設計
防反射結構,有效防止反射光干擾成像光線,從而使成像更清晰、視場襯度更好。
產品特點:
1.提供穩定的操作機構,使成像更清晰,操作更簡便。
2.顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學設計,結構勻稱,實現鏡體擴展積木化。
3.工作臺、光強與粗微調的低位操作,提高了使用的舒適性。
4.廣泛應用于各類半導體硅晶片檢測、材料科學研究、地質礦物分析及精密工程等學科領域。
技術參數:
光學系統 有限遠色差校正光學系統
觀察筒 鉸鏈式雙目,30°傾斜,360°旋轉,瞳距調節范圍:54-75mm,雙邊±5屈光度可調;
鉸鏈式三目,固定式分光比,雙目:三目=80%:20%
物鏡 長工作距平場消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X、100X
目鏡 PL10X高眼點平場目鏡,線視場 18mm
調焦機構 粗微調同軸,帶機械上限位和松緊調節裝置, 粗調行程28mm,微調精度0.002mm
轉換器 內定位四孔轉換器
內定位五孔轉換器
載物臺 雙層機械移動平臺,附設180X145mm平板平臺, 移動范圍:76mmX50mm
照明系統 反射式柯拉照明,自適應寬電壓90V-24V,6V/30W鹵素燈,光強連續可調,帶可變孔徑光闌與視場光闌,視場光闌中心可調
攝像裝置 0.35X/0.5X/1.0X C型攝像接筒
攝影裝置 攝影接筒(帶PK卡口),3.2X攝影目鏡
其他可選功能 簡易偏光
6V30W透射照明系統
可選配:
拍照 存儲 測量功能的工業微型處理器相機
具體功能:
● 自動尋邊測量功能
可根據取點范圍,自動識別線、圓、弧,具有極強的去毛邊的功能,并極大地提高線距、線夾角、圓半徑、弧半徑測量精度,避免人工誤差。
● 幾何測量功能
線、圓、矩形、多邊形、角度等測量工具,對圖像上兩點距離、線段長度、線距、圓半徑直徑、面積、角度、矩形、折線、多邊形、點線、平行線距的等幾何參數進行測量。