名片曝光使用說明

步驟1:創(chuàng)建名片

微信掃描名片二維碼,進(jìn)入虎易名片小程序,使用微信授權(quán)登錄并創(chuàng)建您的名片。

步驟2:投放名片

創(chuàng)建名片成功后,將投放名片至該產(chǎn)品“同類優(yōu)質(zhì)商家”欄目下,即開啟名片曝光服務(wù),服務(wù)費(fèi)用為:1虎幣/天。(虎幣充值比率:1虎幣=1.00人民幣)

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Nanotrac Wave 納米粒度儀具有操作簡(jiǎn)便、測(cè)試快捷、高分辨、高重復(fù)及測(cè)試準(zhǔn)確等特點(diǎn),適用于各種納米級(jí)、亞微米級(jí)固體顆粒與乳液等領(lǐng)域中。今天小編主要來介紹一下Nanotrac Wave 納米粒度儀基本應(yīng)用知識(shí),希望可以幫助用戶更好的應(yīng)用產(chǎn)品。 Nanotrac Wave 納米粒度儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 隨著顆粒粒徑的減小,例如分子級(jí)別的大小,顆粒對(duì)光的散射效率急劇降低,使得經(jīng)典動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的自相關(guān)檢測(cè)(PCS)變得更加不確定。40多年 來,Microtrac公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度測(cè)量中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒,早在1990年,超細(xì)顆粒分析儀器 UPA(UltrafineParticle Analyzer)研發(fā)成功,首次引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念,快速準(zhǔn)確地得到被測(cè)體系的納米粒度分布。2001年,利 用背散射(Back-scattered)和異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術(shù),結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射理論和先進(jìn)的數(shù)學(xué)處理模型,將分析范圍延伸至 0.8nm-6.5μm,樣品濃度更可高達(dá)百分之四十,基本實(shí)現(xiàn)樣品的原 位檢測(cè)。異相多普勒頻移技術(shù)采用可控參考穩(wěn)定頻率,直接比照因顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的頻率漂移,綜合考慮被測(cè)體系的實(shí)時(shí)溫度和粘度,較之于傳統(tǒng)的自相關(guān)技術(shù),信號(hào)強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí)。另外,新型“Y”型梯度光纖探針的使用,實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品的直接測(cè)量,極大的減少了背景噪音,提高了儀器的分辨率。 Nanotrac Wave 納米粒度儀技術(shù)特點(diǎn): 采用新的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù),引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法; 專利的異相多譜勒頻移技術(shù),較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號(hào)強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí),提高分析結(jié)果的性; 專利的可控參比方法(CRM),能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,確保分析的靈敏度; 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì),減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,高濃度溶液中納米顆粒測(cè)試的準(zhǔn)確性; 專利的快速傅利葉變換算法(FFT,F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method),迅速處理檢測(cè)系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時(shí)間; 消除多種空間位阻對(duì)散射光信號(hào)的干擾,諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質(zhì)的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度; Nanotrac Wave 納米粒度儀技術(shù)參數(shù): 粒度分析范圍: 0.8nm-6.5μm 重現(xiàn)性:誤差≤1% 濃度范圍:ppb-40% 檢測(cè)角度:180° 分析時(shí)間:30-120秒 準(zhǔn)確性:全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子 測(cè)量精度: 無需預(yù)選,依據(jù)實(shí)際測(cè)量結(jié)果,自動(dòng)生成單峰/多峰分布結(jié)果 理論設(shè)計(jì)溫度:0-90℃,可以進(jìn)行程序升溫或降溫 兼容性:兼容任何有機(jī)溶劑及大多數(shù)酸性或堿性溶液 Nanotrac Wave 納米粒度儀測(cè)量原理: 粒度測(cè)量:動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理 分子量測(cè)量:水力直徑或德拜曲線 專利技術(shù):膜電極,微電場(chǎng)電勢(shì)測(cè)量,“Y”型光纖探針設(shè)計(jì),異相多普勒頻移,可控參比方法,快速傅立葉轉(zhuǎn)換算法,非球形顆粒校正因子。 http://www.1718world.com/ziliao/201509/17/ziliao-24013.html http://www.1718world.com/ziliao/201509/17/ziliao-24014.html
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