瑞典XCounter雙能光子計數X射線探測器XC-FLITE FX系列 小平板探測器，直接成像探測器，MINI平板，CdTe-CMOS傳感器，光子計數探測器，雙能光子計數X射線探測器，X射線探測器，CMOS傳感器，線陣探測器，線陣探測器，平板探測器，微型平板探測器 產品描述 XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接數字轉換、雙能采集、光子計數X射線探測器，用于數字X射線成像系統，基于新型強大的CdTe-CMOS傳感器平臺研發而成，XC-FLITE X系列適用于潛在寬泛的能量范圍。 XC-FLITE X系列可以基于幀率成像，也可以采用時間延遲總和（TDS）模式。 引進反符合技術的雙能采集功能，是XC-FLITE FX系列產品的先進之處，在雙能采集過程中，通過兩個獨立的閾值將探測到的光子能量加以比較，并分別讀出，雙能設置可用作材料分析，這為新的醫學和工這為新的醫學和工業X射線成像技術開啟了大門。反符合技術的運用，確保將每一個光子信號分布在適當的像素點上，從而獲得更高的能量分辨率。 集成 XC-FLITE FX系列，通過GigE接口將XC-FLITE FX系列連接到計算機上，自帶靈活的軟件開發包，可控制所有XC-FLITE FX的功能；可用在Windows XP、Vista、Windows7和Windows8系統平臺 應用 *小范圍輻照 *小動物成像 *實驗室樣品和標本成像 *工業檢測（NDT） 特點&優勢 *三種尺寸可選 *CdTe-CMOS傳感器，高品質成像 *雙能采集，具有材料區分能力 *反符合技術，卓越的能量分辨率 *可基于幀率成像，也可以選擇時間延遲總和（TDS）模式 *兼容Windows操作系統，從XP到Windows8 *配有功能強大的系統軟件 技術參數 物理參數 尺寸 （L×W×H）：XC-FLITE FX1：23.1×13.1×6.0 cm XC-FLITE FX2：38.6×13.1×6.5 cm XC-FLITE FX3：54.0×13.1×6.5 cm 溫度控制：Internal Peltier溫度控制 環境溫度：+10 - +40℃ 儲藏溫度：-10-+60℃ @ 10% to 95% 濕度 射線窗：碳纖維， 厚500μm 射線屏蔽：根據應用 傳感器 傳感器數量：FX1：1 FX2：2 FX3：3 傳感器類型：雙能光子計數 CdTe-CMOS 傳感器厚度：0.75mm-2.0mm CdTe 有效面積：FX1：154.7×12.8mm (1536×128像素) FX2：309.4×12.8mm (3072×128像素) FX3：464.1×12.8mm（4608×128像素） 像素：100μm 像素填充率：100% 性能 幀率：最高1000 fps（也可選擇時間延遲求和模式） 動態范圍：12 bits 像素合并：1×1，2×2，4×4 曝光時間：100μs-5s DQE（0）85%@RQA5 spectra MTF：＞80% @ 2lp/mm ＞45% @ 5lp/mm 管KV范圍：15-250kVp 內部測試模式：偽隨機調試模式 外部觸發輸出：3.3V TTL 輸入：5V 滯后：0% 拖影：＜0.1% X射線開啟后1分鐘，（12μGy） 分辨率和DQE曲線 （反符合開CC on和閉CC off）