Cost-effective通訊領域專用光束分析儀！通訊領域專用光束分析儀價格革命！ 關鍵詞：光束分析儀，聚焦光束測量儀，聚焦光輪廓分析儀，通訊領域專用光束分析儀，光束質量分析儀，實時準直系統，實時光斑準直測量系統，C波段光束分析儀，L波段光束分析儀，C&L波段光束分析儀 為了滿足通訊領域中廣大客戶的需求，并提高客戶的工作效率和降低客戶的生產成本，德國著名光束分析儀廠商Cinogy公司設計生產了專門用于通訊領域的光束分析儀，主要用于測量850nm，1310nm和1550nm等通訊波長的激光光束的光斑大小、發散角、功率以及指向穩定性等，實時監測光束形狀以及變化。 德國Cinogy公司為通訊領域設計生產的光束分析儀主要分為CinAlign光束分析儀和CinFocus光束分析儀兩種。CinAlign光束分析儀主要是用于準直的或者較大光斑（一般在53um以上）的激光光束測量，一般用于測量遠場的激光光束；CinFocus光束分析儀主要是用于聚焦光斑（最小可達1.1um）的激光光束測量，一般用于測量近場的激光光束。 CinAlign光束分析儀 – 用于測量準直或者較大光斑的激光光束 德國CINOGY公司為通訊領域客戶專門設計生產的CinAlign光束分析儀，主要是用于測量準直的或者較大光斑的激光光束的光斑大小、能量分布、發散角、功率以及指向穩定性等。CinAlign主要分為CinCam CMOS-1202和CinCam CMOS-1201-IR兩種相機，基本涵蓋了所有通訊波長，其響應波長范圍為320~1610nm，主要用于測量850nm、1310nm和1550nm等通訊波長的激光器。CinAlign測量的激光光斑范圍為52um~4mm，兼容測量連續以及脈沖激光器。 特點： 1. 測量的波長范圍：320~1610nm 2. 測量的光斑大小：52um~4mm 3. 實時監控光斑形狀以及變化 4. 分辨率高，高準確度 5. 測量激光光束的光斑大小、發散角、功率以及指向穩定性等 技術指標： 相機型號 CinCam CMOS-1202 CinCam CMOS-1201-IR 規格 1/1.8’’ 1/2’’ 通光孔徑 6.8mm x 5.4mm 6.7mm x 5.3mm 分辨率 1280x 1024 1280x 1024 像素大小 5.3um x 5.3um 5.2um x 5.2um 波長范圍 320~1350nm 1470~1610nm 位深 8Bit 8Bit 動態范圍 >62dB >61dB 接口 USB2.0 USB2.0 模式 連續和脈沖 連續 尺寸(WxHxL) 40mm x 40mm x 20mm 40mm x 40mm x 20mm 主要軟件視圖： 1. 光斑/功率的測量 2. 發散角的測量 CinFocus光束分析儀 – 用于測量聚焦的激光光束 德國CINOGY公司為通訊領域客戶專門設計生產的CinFocus光束分析儀，主要是用于測量聚焦光束的焦點光斑大小、焦距、發散角、功率以及指向穩定性等。該系統集成了CinCam CMOS光束分析儀，確保了測量的準確性。測量波長范圍為320~1610nm，基本涵蓋了所有通訊波長，一般主要用于測量850nm、1310nm和1550nm等通訊波長。CinFocus光束分析儀系統主要由顯微鏡和CinCam CMOS光束分析儀組成，其可測量的聚焦的光斑最小可達1.1um。另外，該系統為一個開放式光束分析儀系統，其中的CinCam CMOS光束分析儀可取下使用，用于測量準直的或者較大光斑的光束（最大測量光斑為4mm）。 特點： 1. 測量的波長范圍：320~1610nm 2. 測量的光斑大小：1.1um~4mm 3. 實時監控光斑形狀以及變化 4. 分辨率高，高準確度 5. 測量焦點位置的光斑大小、發散角、功率以及指向穩定性等 技術指標： 規格 10x System 20x System 40x System 波長范圍 320~1350nm，1470~1610nm 工作距離(mm) 10 3.3 0.6 焦距(mm) 15.26 8.55 4.39 可替換的衰減片 OD1.0~OD5.0 光學分辨率(um) 1.5 1.2 1 光斑大小(um): CMOS1201 CMOS1202 CMOS1203 ~5.2-267 ~5.3-272 ~4.5-270 ~2.6-134 ~2.6-136 ~2.3-135 ~1.3-67 ~1.3-68 ~1.1-67 視場(um)： CMOS 1201 CMOS 1202 CMOS 1203 666 x 533 678 x 543 720 x 540 333 x 267 339 x 272 360 x 270 167 x 134 170 x 136 180 x 135 最大輸入功率 100mW 主要軟件視圖： 1. 焦點位置的光斑/功率/指向穩定性的測量 2. 發散角的測量