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Agilent 8509C光偏振分析儀覆蓋L波段，可對光信號和元件進行寬工作范圍的測量。自動的測量步驟簡化了PMD、PDL和保偏光纖對準。對于10至40Gb/s測試，8509C可測量至0.01ps的偏振模式色散。對光信號和材料偏振特性的快速和的測量可幫助開發更高性能的光元件和系統，以及低成本的制造流程。
性能特性
? 波長工作范圍： 1280 nm 至 1640 nm
? 分辨率： 1 fs
? 偏振狀態測量速率： >3500 ∕秒
? PMD 測量范圍： 0.01 ps (10 fs) 至 400 ps (取決于設置條件)
