E H電磁流量計：Levelflex M FMP41C, FMP45 實時液位測量系統 Endress＋Hauser公司新推出新的E H物位計Levelflex M FMP41C, FMP45。該款導波雷達物位計，利用雷達的回波原理來檢測總液面和界面的位置，并運用功能強大的TOF軟件進行數據和圖形分析，彌補了電容物位計不能同時測量總液位高度的缺陷，與傳統的浮筒液位計相比，維護難度和費用大大降低。 Levelflex導波雷達物位計是革于時間行程原理(ToF)工作的“俯視式”測量系統.用于測量參考點(過程連接處）至被測液而間的距離.探頭發射高頻脈沖信號，信號沿探桿/纜傳播并在被測液面處產生反射。儀表內的電子部件接收反射回波信號，并將其轉換成液位高度。通常，也稱此測方法為時城反射法(TDR)。 智能導波雷達物位計，可用于液體液位測量和界面測量 介電常數 被測介質介電常數(DK)的大小直接影響高頻脈沖信號的反射率。介電常數(DK)較大時，如水和氮水，脈沖反射回波信號強;反之，介電常數(DK)較小時，如碳氛化合物，脈沖反射回波信號弱。 輸入 脈沖反射回波信號沿探桿/纜傳送至儀表的電子部件.內置微處理芯片對接收到的信號進行分析、識別出真正的液位回波信號。PulseMast軟件凝聚了30余年的時PMU一行程原理測量實踐經驗，能準確地識別出實際液面的回波信號。 側量參考點至被測液面間的距離(D)與脈沖運行時間差(t)成正比: D=c.t/2 其中c是光速 空罐高度(E)為已知量，因此，液位高度(L)為: L=E-D Levelflex導波雷達物位計具有干擾回波抑制功能.由用戶自行激活。該功能可以有效地避免罐體內部的結構突出物引起的干擾回波被誤認為延實際液而的有效回波信號。 選擇E H物位計，恩德斯豪斯作為眾多國際品牌，在機械設備、五金工具、儀器儀表、電子元器、氣動元件、液壓元件，生產廠商在中國的合作伙伴，公司為廣大客戶提供更好的選擇，有優勢的給客戶的價格，是您信賴的品牌。 E H:http://www.endress-h.com 恩德斯豪斯:http://www.endress-h.com E H辦事處:http://www.endress-h.com E H電磁流量計:http://www.endress-h.com/dcllj/ E H超聲波流量計:http://www.endress-h.com/csbllj/ E H差壓流量計:http://www.endress-h.com/cyllj/ E H流量開關:http://www.endress-h.com/llkg/